
異頻介質(zhì)損耗自動測試儀使用方法
5.1、主菜單
打開電源開關(guān),首先顯示
歡迎界面,然后進入主菜單(
如圖5—1);選擇相應(yīng)的測試選項
進行測量。

圖 5—1
5.2、一般測試


圖 5—2 圖 5—3
先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的與被試品之間的連線,然后將光標(biāo)移動至主菜單的第一項“一般測試”上(
如圖5—1), 按確認(rèn)鍵進入下一級設(shè)置菜單(如圖4)。進入詳細參數(shù)設(shè)置菜單(如圖5—2)后,再按確認(rèn)鍵移動光標(biāo)至每一項,按上、下鍵修改相應(yīng)的參數(shù)設(shè)置。最后,所有相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后按確認(rèn)鍵將
參數(shù)
1 | 使用條件 | -5℃∽40℃ | RH<80% |
2 | 抗干擾原理 | 變頻法 |
3 | 電 源 | AC 220V±10% | 頻率無限制 |
4 | 高壓輸出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV |
精 度 | 2% |
最大電流 | 200mA |
容 量 | 1500VA |
5 | 自激電源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ |
6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.1pF |
7 | 精 度 | △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%) |
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.0PF) |
8 | 測量范圍 | tgδ | 無限制 |
C x | 15pF < Cx < 200nF |
| 10KV | Cx < 60 nF |
| 5KV | Cx < 100 nF |
| 1KV | Cx < 200 nF |
CVT測試 | Cx < 200 nF |
9 | CVT變比范圍 | 10∽10000 |
CVT變比精度 | 0.1% |
CVT變比分辨率 | 0.1 |
10 | 外型尺寸 | 430(L)×330(W)×330(H) |
11 | 存儲器大小 | 80 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲 |
12 | 重 量 | 28 Kg |
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光標(biāo)移動至最后一項接著再按一下確認(rèn)鍵 圖 5—4
離開設(shè)置菜單,進入測試菜單(如圖5—3)。
測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變,然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進行測試,測試完成后自動顯示測試結(jié)果(如圖5—4);移動光標(biāo)可以對結(jié)果數(shù)據(jù)進行保存或者打印等操作。
注 意:每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。
5.3、CVT測試


圖 5—5 圖 5—6
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線,然后打開儀器將光標(biāo)移動至主菜單的第二項“CVT測試”上(如圖5—5),按確認(rèn)鍵進入下一級設(shè)置菜單(如圖5—6)。進入具體設(shè)置菜單(如圖5—6)后,接著先將光標(biāo)移動至此菜單的第“CVT電源設(shè)置”按確認(rèn)鍵進入,然后再按確認(rèn)鍵移動光標(biāo)至“電壓設(shè)置”或“頻率設(shè)置”(如圖5—7)上,按上、下鍵調(diào)整到所需的參數(shù),調(diào)整完成后按確認(rèn)鍵返回具體設(shè)置菜單(如圖5—6)。最后按上、下鍵移動光標(biāo)將光標(biāo)停留在相應(yīng)的“同時測試”或“分別測試”上,按確認(rèn)鍵離開此菜單,進入測試菜單(如圖5—8)。


圖 5—7 圖 5—8
測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變,然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進行測試,測試完成后自動顯示測試結(jié)果。
注 意:每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。
5.4、CVT變比測試


圖 5—9 圖 5—10
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好
儀器外部的連線, 然后將光標(biāo)移動至
主菜單的第三項“CVT變比”上(如
圖5—9),按確認(rèn)鍵進入下一級操作菜
單(如圖5—10)先進入電壓設(shè)置菜單
(如圖5—11)設(shè)置好電壓和頻率,然
后返回上一級菜單開始測試。
圖 5—11
5.4、數(shù)據(jù)查詢


圖 5—12 圖 5—13
打開儀器后按上、下鍵將光標(biāo)移動至主菜單的第四項“數(shù)據(jù)查尋”(如圖5—12)上,按確認(rèn)鍵進入。進入數(shù)據(jù)存放菜單(如圖5—13)后,按上、下鍵移動光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項目上,(儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的,第1個數(shù)據(jù)即最新數(shù)據(jù),第80個數(shù)據(jù)即最老數(shù)據(jù)。)再按確認(rèn)鍵讀取相應(yīng)的數(shù)據(jù),在此菜單里面可以按上,下鍵移動光標(biāo)至屏幕下方相應(yīng)的“打印” 、“刪除”上,按確認(rèn)鍵可對數(shù)據(jù)進行打印或刪除等操作。
5.5、時間設(shè)置


圖 5—14 圖 5—15
打開儀器后按上、下鍵將光標(biāo)移動至主菜單的第五項“時間設(shè)置”(如圖5—14)上,按確認(rèn)鍵進入。進入數(shù)時間菜單(如圖5—15)后,按確認(rèn)鍵鍵移動光標(biāo)至想要修改的數(shù)據(jù)項目上,然后再按上、下鍵調(diào)整相應(yīng)的“時” 、“分” 、“秒” ,最后將光標(biāo)移動至最后一項后再按一次確認(rèn)鍵保存修改設(shè)置并退出。
※ 注:
所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下,均可按取消鍵返回上一步驟,如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置
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