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紅外顯微光譜附件

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更新時(shí)間：2025-02-25 08:50:40瀏覽次數(shù)：28次

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CzitekSurveyIR紅外顯微光譜附件可簡(jiǎn)化采集FTIR光譜所需的眾多微量取樣應(yīng)用的用戶體驗(yàn)

詳細(xì)介紹

Czitek SurveyIR 紅外顯微光譜附件可簡(jiǎn)化采集 FTIR 光譜所需的眾多微量取樣應(yīng)用的用戶體驗(yàn)。將 SurveyIR 附件裝在 Nicolet Summit FTIR 光譜儀的樣品倉(cāng)中，以提高顯微光譜分析功能并實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大、便攜式優(yōu)質(zhì)樣品數(shù)據(jù)和圖像生成解決方案。SurveyIR 附件的空間分辨率為 100 微米并具有三種采樣模式：透射、反射和 ATR。在所有采樣模式中，SurveyIR 附件均可利用 Summit FTIR DTGS 檢測(cè)器。

SurveyIR 附件利用大景深觀察光學(xué)元件，包括金剛石 ATR。可選的金剛石和鍺 ATR 拆裝方便，適合多種樣品和分析類型。ATR 接觸報(bào)警板可通過(guò)相應(yīng)的 eSpot™ 軟件和附件正面的 LED 指示燈向用戶提供可視化的 ATR 壓力反饋。