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金屬鍍層厚度分析儀

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更新時間：2025-01-30 14:43:37瀏覽次數(shù)：14次

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產(chǎn)品簡介

金屬鍍層厚度分析儀; 耐用且價廉的X射線熒光測試儀器，可無損測量鍍層厚度和進行材料分析

詳細介紹

金屬鍍層厚度分析儀主要特點:
新型DVM®-µ是一款可靠的采用X-射線熒光方法和的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。
它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進行測量。
在經(jīng)濟上遠遠優(yōu)于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設(shè)計使得能夠在非常精細的結(jié)構(gòu)上進行厚度測量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。
具有強大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
菲希爾進口測厚儀介紹:
WinFTMV6 是一套專門為解決含量分析和鍍層測量的軟件
WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平臺上運行；因為透過簡單操作及準確的分析結(jié)果，所以便能夠提升生產(chǎn)力。WinFTMV6還有以下的特色……
特大屏幕能提供畫中畫顯示分析結(jié)果，光譜及彩色影像圖，圖像亦可以用JPG格式儲存。
儀器能同時間分析zui多24種不同的元素；根據(jù)可檢定的元素范圍由x ppm到99%，所以原子序號可由氯Cl=17）到鈾（Uranium Z=92）。
可同時測量23層不同元素鍍層的厚度。
共有1024頻道顯示清晰光譜，可隨意選用不同顏色及儲存光譜圖，方便日后加以分析。
因為不同受檢樣本的光譜可以進行比較，所以便快捷和容易地得出兩種不同樣本含量的分別。
快速的頻譜分析以決定合金成分。
可以隨意創(chuàng)建元素分析應用程式。
透過預先設(shè)入的14種純元素作為資料庫，儀器便可以不需用標準片調(diào)校亦能以基本系數(shù)（FP）進行分析；如果輸入已知的元素更可快捷地得出含量結(jié)果。
可同時接受zui多10種不同含量的標準片來調(diào)校儀器，所得出的結(jié)果更精確及可信賴。
用滑鼠選擇已經(jīng)儲存的應用檔案后，便可即時進行含量分析。
測量樣品后，可透過“analysis”功能按鍵，儀器便會自動偵測內(nèi)里的元素含量。
自帶SOFTWARE PDM（Product Data Management產(chǎn)品數(shù)據(jù)管理）提供了以下的附加功能：
通過可定義的文件夾實現(xiàn)產(chǎn)品文件管理（產(chǎn)品文件包括應用，數(shù)據(jù)呈現(xiàn)方式，打印形式定義，輸出模板設(shè)置和記事簿）。
打印形式可由用戶隨意設(shè)定，例如輸出公司標題之類的小圖片。包括字體管理以及隨意定義頁面設(shè)置。
單個的應用可連接至任何的產(chǎn)品文件（這種連接大大減少了校驗和標準化所需的步驟數(shù)）。
使用條形碼標簽以及可選擇的條形碼讀入器鍵盤，可實現(xiàn)產(chǎn)品自動選擇。
允許僅對選擇的數(shù)據(jù)進行評估。
從選擇的數(shù)據(jù)塊中進行單組讀數(shù)的數(shù)據(jù)輸出。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM-u可以透過RS232接口、磁碟片或網(wǎng)絡(luò)卡將所要的資料匯出到其他電腦進行統(tǒng)計。
XYZ運行程序功能：隨機的單個點，*點和zui后一點以及距離固定的中間點，列陣點，鼠標左鍵選點功能，右鍵可作為控制鍵。
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
技術(shù)參數(shù):
1.涂鍍層厚度的測量采用X-射線熒光測試方法，符合技術(shù)標準DIN50987，ISO3497和ASTM B568；
2.測量箱結(jié)構(gòu)堅固，使用合格的機械和電氣部件；
3.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大約為90kg；
4.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）140mm×560 mm×530 mm，帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
5.原始射線從上至下；
6.高性能的X-射線管，高壓及電流設(shè)定可調(diào)節(jié)至的應用，高壓設(shè)定：50kV，40kV或30kV；陽極電流：連續(xù)可調(diào)至0.8mA；
7.zui小測量點: 50×100um
8.聚焦范圍: 2.5 mm
9.自動的X-射線光束十字星校準。該特性在測量極小工件時非常有用；
10.高能量解像度的半導體接受器帶帕耳帖冷卻；內(nèi)部光譜處理的ADC的通道為4096，壓縮為1024個輸出通道；；
11.快速編程，高精確度，電機帶動的XY工作臺運行范圍：
X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm；
工作臺的控制可通過鼠標點選或操作桿
工作臺面板可自動移出至工件放置位置；定位容易；
12.電機驅(qū)動及高度（Z-軸）Z-軸運行=95mm；
13.高分辨率的彩色攝像頭用于測試工件的定位及查看；可選擇的雙重放大率