日立TM4000Ⅱ掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 TM4000Ⅱ優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納樣品直徑80mm，厚度50mm。
TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示，獲得最多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能，可實現(xiàn)大范圍自動連續(xù)拍照和自動拼圖功能。

主要參數(shù)：

1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV/20kV（均四檔可調(diào)）、EDX
2. 放大倍率：10×~100000×
3. 觀察模式：導(dǎo)體、標準模式，消除電荷模式
4. 探測器：4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器（TM4000Plus）