CH-1-ST測厚儀(薄膜) 

本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準

CH-1-ST測厚儀(薄膜) 

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上測頭曲率半徑:15-50mm 
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎執(zhí)行標準:GB6672-86 
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上測頭曲率半徑:15-50mm 
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎執(zhí)行標準:GB6672-86 
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).