1. 主要型號及特點

（1）Vanta Element-S（經(jīng)濟(jì)型）

• 適用場景：基礎(chǔ)礦石分析、礦脈勘探

• 檢測元素：Mg（鎂）~ U（鈾）

• 核心優(yōu)勢：

• 性價比高，適合預(yù)算有限的用戶

• 防塵防水（IP54），適應(yīng)野外環(huán)境

• 配備硅漂移探測器（SDD），檢測速度快（1~3秒）

（2）Vanta C系列（高性能）

• 適用場景：高精度礦石分析、稀土元素檢測

• 檢測元素：擴(kuò)展至輕元素（可選配Li、Be等）

• 核心優(yōu)勢：

• 超高靈敏度（ppm級檢測限）

• 可測**稀土元素（REE）**如La、Ce、Nd等

• 耐艱苦環(huán)境（-10°C~50°C）

（3）Vanta M系列（工業(yè)級）

• 適用場景：礦山質(zhì)量控制、冶煉廠原料檢測

• 檢測元素：全元素覆蓋（可選配LIBS測輕元素）

• 核心優(yōu)勢：

• 抗摔設(shè)計（1.2米跌落測試）

• 大容量電池（連續(xù)工作8~12小時）

• 支持云數(shù)據(jù)同步，方便團(tuán)隊協(xié)作

2. 核心技術(shù)：X射線熒光（XRF）

• 原理：X射線激發(fā)礦石原子，通過熒光光譜分析元素成分。

• 精度：

• 主量元素（如Fe、Cu）誤差<1%

• 微量元素（如Au、Ag）檢測限達(dá)ppm級

• 適用礦石類型：

• 金屬礦（銅、鐵、鉛鋅、金、銀等）

• 稀土礦（釹、鑭、鈰等）

• 工業(yè)礦物（磷灰石、鋁土礦等）

3. 典型應(yīng)用場景

4. 使用注意事項

• 樣品準(zhǔn)備：

• 礦石表面需清潔（去除泥土、氧化層）

• 顆粒狀樣品需壓片或磨平以提高精度

• 安全防護(hù)：

• XRF含微量輻射，避免長時間直射人體

• 野外使用時注意防塵防潮（盡管IP54防護(hù)）

• 校準(zhǔn)維護(hù)：

• 定期用標(biāo)準(zhǔn)礦石樣品校準(zhǔn)（如GSD-1A地質(zhì)標(biāo)樣）

• 避免高溫、高濕度環(huán)境存放