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電子電工國(guó)標(biāo)目錄
點(diǎn)擊次數(shù)：2571 發(fā)布時(shí)間：2007-12-27
電子電工國(guó)標(biāo)目錄
| 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 | |
| GB/T 10586-2006 | GB/T 10586-2006 |
| GB/T 10587-2006 | 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
| GB/T 10588-2006 | 長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
| GB/T 10589-1989 | 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
| GB/T 10590-2006 | 高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
| GB/T 10591-1989 | 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
| GB/T 11158-2008 | 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 |
| 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 | |
| GB/T 5170.1-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 |
| GB/T 5170.2-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.5-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.8-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.9-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.10-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.11-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.13-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái) |
| GB/T 5170.14-2009 | 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) |
| GB/T 5170.15-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法 振動(dòng)（正弦）實(shí)驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái) |
| GB/T 5170.16-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)折本基本參數(shù) 檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī) |
| GB/T 5170.17-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.18-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.19-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB/T 5170.20-2005 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備 |