澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢(shì)，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過(guò)電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。

ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電子顯微鏡價(jià)格產(chǎn)品信息

ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡

產(chǎn)品介紹

臺(tái)式掃描電鏡

ZEM Ultra 臺(tái)式掃描電鏡采用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，三級(jí)獨(dú)立真空設(shè)計(jì)，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉(cāng)，支持原位功能樣品臺(tái)及EDS/EBSD拓展。

產(chǎn)品特色

▲ 全自動(dòng)操作

▲ 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍

▲ 高穩(wěn)定性

▲ 高分辨觀測(cè)

▲ 豐富拓展

▲ 易用性強(qiáng)

產(chǎn)品參數(shù)

圖像像素尺寸（默認(rèn)）：512*512（視頻）2048*2048（拍照）

燈絲類(lèi)型：場(chǎng)發(fā)射燈絲

電動(dòng)樣品臺(tái)：XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸

探測(cè)器類(lèi)型：BSE、SE、EDS